當(dāng)前所在位置: 首頁 > 產(chǎn)品首頁 >檢測、測量 、自動化、工業(yè)IT >計量及測試設(shè)備 >3D激光掃描儀/激光輪廓掃描儀/3D數(shù)字轉(zhuǎn)換器 >OPHIR輪廓儀C-NFP Assy
照相機(jī)近場輪廓儀是一種基于照相機(jī)的附件,用于在近場對激光進(jìn)行光束輪廓分析。它還可與照相機(jī)輪廓儀一起用于分析小光束,并通過顯微鏡物鏡將光束成像到照相機(jī)探測器陣列上。這種技術(shù)擴(kuò)大了相機(jī)的測量范圍,可以測量較小的光束,由于檢測器陣列的像素大小,通常無法測量這些光束。近場輪廓分析適用于光纖和波導(dǎo)分析、透鏡鑒定以及其他需要分析 50 μm或更小光束的應(yīng)用。雖然有更準(zhǔn)確的技術(shù)來測量這些光束尺寸,但照相機(jī)提供的二維信息并不總是能通過刀刃或掃描狹縫方法獲得。該照相機(jī)配件包括用于安裝照相機(jī)和顯微鏡物鏡的底板、ATP-K 可變衰減器、50 mm C 型支架以及 8 mm和 5 mm墊片。用戶可選放大鏡、相機(jī)和 BeamGage 單獨購買。測試光束或樣品的近場通過顯微鏡物鏡成像,并傳輸?shù)较鄼C(jī)。托架安裝裝置可固定鏡頭和攝像頭,攝像頭本身可安裝在定位器或光學(xué)導(dǎo)軌上。這套完整的系統(tǒng)提供了開箱即用的近場測量所需的一切。
對聚焦激光束的腰部進(jìn)行成像
10 倍、20 倍、40 倍和 60 倍顯微鏡物鏡
可測量通常對于攝像輪廓儀來說太小的光束
擴(kuò)大光束以降低功率/能量密度
提供光纖、LD 結(jié)和其他小光源的近場剖面圖
可使用攝像頭和衰減測量緊密聚焦的光束
易于校準(zhǔn)
內(nèi)置連續(xù)可變衰減
C 型安裝座,可安裝到任何硅 CCD 相機(jī)剖面儀上
相機(jī)和 BeamGage 軟件需單獨購買
C-NFP 組件:包括用于安裝相機(jī)和顯微鏡物鏡的底板、ATP-K 可變衰減器、50mm C 型卡口以及 8mm 和 5mm 墊片;SP90291
60X:60X顯微鏡物鏡;功率:60X;有效焦距:3.21;視野:0.30;工作距離:0.15;凈空:0.85;SP90292
40X:40X顯微鏡物鏡;功率:40X;有效焦距:4.35;視野:0.45;工作距離:0.60;凈空:0.65;SP90293
20X:20X顯微鏡物鏡;功率:20X;有效焦距:8.33;視野:0.90;工作距離:3.75;凈空:0.40;SP90294
10x:10X顯微鏡物鏡;功率:10X;有效焦距:17.02;視野:1.80;工作距離:4.40;凈空:0.25;SP90295
固定式 ND 濾光片
擋光板
ATP-K 可變 ND 濾光片
鎖定環(huán)
8 mm C 安裝擴(kuò)展器
5 mm C 安裝擴(kuò)展器
C-NFP 適配器
顯微鏡物鏡需單獨購買
SP90292:配合相機(jī)使用,完成近場激光光束輪廓分析
SP90293:配合相機(jī)使用,完成近場激光光束輪廓分析
SP90294:配合相機(jī)使用,完成近場激光光束輪廓分析
SP90295:配合相機(jī)使用,完成近場激光光束輪廓分析
產(chǎn)地:美國
零件編號:SP90291
光譜范圍:400 至 700 nm
Max光束尺寸:50 µm
膨脹率:10X, 20X, 40X, 60X
內(nèi)容:包括用于安裝相機(jī)和顯微鏡物鏡的底板
可變衰減器:ATP-K
C 型卡口:50 mm
墊片:8 mm;5 mm
軟件:BeamGage
剖面圖:光纖、LD 結(jié)和其他小光源的近場剖面圖
材料加工、增材制造、科學(xué)、IPL、光纖、眼睛防護(hù)、VCSEL、太赫茲測量、電信、汽車、直接能源、UVA
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